Paul S. Ho (Autor) / Najlacnejšie knihy

Knihy od autora Paul S. Ho

Zobrazené 1 – 10 z 10 výsledkov

Ďalšie

Stránka 1. z 1

Predchádzajúci

Radiť podľa a zobraziť tiež nedostupné

  1. Stress-Induced Phenomena in Metallization

    Stress-Induced Phenomena in Metallization

    Ehrenfried Zschech, Shinichi Ogawa, Paul S. Ho | Springer, Berlin, 2010


    50 % šanca - Prehľadáme celý svet

    Jazyk: Angličtina

    Väzba: Pevná

    147.36

  2. Low Dielectric Constant Materials for IC Applications

    Low Dielectric Constant Materials for IC Applications

    Paul S. Ho, Wei William Lee, Jihperng Leu | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, 2012


    Skladom u dodávateľa - Odosielame za 5 - 8 dní

    Jazyk: Angličtina

    Väzba: Brožovaná

    154.55

    Zľava 7 %
    Ušetríte 12.88 €
  3. Low Dielectric Constant Materials for IC Applications

    Low Dielectric Constant Materials for IC Applications

    Paul S. Ho, Jihperng Leu, Wei W. Lee | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, 2002


    Skladom u dodávateľa - Odosielame za 10 - 13 dní

    Jazyk: Angličtina

    Väzba: Pevná

    154.55

    Zľava 7 %
    Ušetríte 12.88 €
  4. Advanced Interconnects for ULSI Technology

    Advanced Interconnects for ULSI Technology

    Mikhail Baklanov, Paul S. Ho, Ehrenfried Zschech | John Wiley & Sons Inc, 2012


    Skladom u dodávateľa v malom množstve - Odosielame za 11 - 15 dní

    Jazyk: Angličtina

    Väzba: Pevná

    212.08

    Zľava 4 %
    Ušetríte 8.86 €
  5. Electronic Packaging Materials Science V: Volume 203
    Predobjednávka

    Electronic Packaging Materials Science V: Volume 203

    Edwin D. Lillie, Paul S. Ho, Ralph Jaccodine, Kenneth Jackson | Materials Research Society, 1991


    Očakávaný dotlač - Termín neznámy

    Jazyk: Angličtina

    Väzba: Pevná

    34.32

    Zľava 14 %
    Ušetríte 6.02 €
  6. Stress-Induced Phenomena in Metallization

    Stress-Induced Phenomena in Metallization

    Shinichi Ogawa, Paul S. Ho, Ehrenfried Zschech | Springer, Berlin, 2007


    50 % šanca - Prehľadáme celý svet

    Jazyk: Angličtina

    Väzba: Pevná

    184.73

  7. Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309

    Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309

    Kenneth P. Rodbell, William F. Filter, Harold J. Frost, Paul S. Ho | Cambridge University Press, 2014


    Skladom u dodávateľa - Odosielame za 9 - 15 dní

    Jazyk: Angličtina

    Väzba: Brožovaná

    36.45

  8. Stress-Induced Phenomena in Metallization

    Stress-Induced Phenomena in Metallization

    Ehrenfried Zschech, Karen Maex, Paul S. Ho, Hisao Kawasaki | Springer, Berlin, 2006


    50 % šanca - Prehľadáme celý svet

    Jazyk: Angličtina

    Väzba: Pevná

    209.24

  9. Stress Induced Phenomena in Metallization

    Stress Induced Phenomena in Metallization

    Shefford P. Baker, Matti A. Korhonen, Eduard Arzt, Paul S. Ho | Springer, Berlin, 2002


    50 % šanca - Prehľadáme celý svet

    Jazyk: Angličtina

    Väzba: Pevná

    130.44

  10. Stress-Induced Phenomena in Metallization

    Stress-Induced Phenomena in Metallization

    Paul S. Ho, Shefford P. Baker, Tomoji Nakamura, Cynthia A. Volkert | Springer, Berlin, 2005


    50 % šanca - Prehľadáme celý svet

    Jazyk: Angličtina

    Väzba: Pevná

    194.66

Ďalšie

Stránka 1. z 1

Predchádzajúci

Záznamov na stránku

Filtrovať výsledky

Jazyk
  • Angličtina10
Väzba
  • Pevná8
  • Brožovaná2
Štítky
  • Predobjednávka1
Dostupnosť
  • Do 2 týždňov2
  • Do mesiaca2
  • Predobjednávka1
  • Dostupnosť neznáma5
Rok vydania
  • 20141
  • 20122
  • 20101
  • 20071
  • 20061
  • 20051
  • 20022
  • 19911
Rozsah ceny

-



Osobný odber Bratislava a 12840 dalších

Copyright ©2008-26 najlacnejsie-knihy.sk Všetky práva vyhradenéSúkromieCookies


Môj účet: Prihlásiť sa
Všetky knihy sveta na jednom mieste. Navyše za skvelé ceny.

Nákupný košík ( prázdny )

Vyzdvihnutie v Zásielkovni
zadarmo nad 59,99 €.

Nachádzate sa: